Search
Abstract
W pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.
Citations
-
1 3
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 5
Scopus
Authors (4)
Cite as
Full text
download paper
downloaded 19 times
- Publication version
- Accepted or Published Version
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2010.10.013
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
no. 51,
pages 621 - 627,
ISSN: 0026-2714 - Language:
- English
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Smulko J., Józwiak K., Olesz M., Hasse L.: Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 51, nr. iss. 3 (2011), s.621-627
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2010.10.013
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 148 times
Recommended for you
System pomiarowo-kontrolny do wielkoseryjnej produkcji kondensatorów przeciwzakłóceniowych o dużej niezawodności
- K. Rogala,
- L. Spiralski,
- J. Turczyński
2002