Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic

Abstract

w rozdziale zaprezentowano wyniki badań właściwości fotoelektrycznych struktury tlenku tytanu domieszkowanego wanadem naniesionej na podłoże krzemowe. cienką warstwę tlenkową naniesiono w procesie rozpylania magnetronowego rozpylania magnetronowego. na podstawie badań stwierdzono występowanie efektu fotoelektrycznego na granicy cienka warstwa - podłoże krzemowe.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Monographic publication
Type:
rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
Title of issue:
XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI strony 93 - 99
Language:
Polish
Publication year:
2009
Bibliographic description:
Sieradzka K., Bogdan A., Domaradzki J., Łapiński M., Górnicka B.: Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic// XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI/ ed. ed. Jan Zarzycki Wrocław: Wrocławskie Towarzystwo Naukowe, 2009, s.93-99
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 122 times

Recommended for you

Gasochromic effect in nanocrystalline TiO2 thin films doped with Ta and Pd

  • J. Domaradzki,
  • E. Prociów,
  • D. Kaczmarek
  • + 3 authors
2009

Mobility measurements in oxide semiconductors

2009

Properties of nanocrystalline TiO2:V thin films as a transparent semiconducting oxides

  • K. Sieradzka,
  • J. Domaradzki,
  • E. Prociów
  • + 2 authors
2009
Meta Tags