Search
Abstract
Gęste i nanokrystaliczne filmy tlenku ceru domieszkowane 20% samarem przygotowane na szafirze oraz próbki ceramiczne zostały przygotowane z prekursorów polimerowych. Ich konduktacja elektryczna była badana w funkcji temperatury i skorelowana z wielkością krystalitów. Model blokowo-warstwowy przewiduje mniejszą konduktacje próbki gdy wielkości krystalitów są mniejsze, w przypadku gdy rezystancja obszarów międzyziarnowych jest większa od rezystancji ziarem. Wyniki eksperymentalne potwiedzają przewidywania modelu dla ziaren wiekszych od 15nm. Dla ziarem mniejszych od 15nm wyniki nie są zgodne z modelem. Może to być spowodowane mniejszą segregacją zanieczyszczeniami w obszarach międzyziarnowych.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Suzuki T., Jasiński P., Anderson H.: Electrical conductivity of nanocrystalline Sm-doped CeO2 thin film.// / : , 2004,
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 106 times
Recommended for you
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
Analysis of the grain boundary conductivity for nanocrystalline doped ceria using the brick layer model.
- T. Suzuki,
- P. Jasiński,
- H. U. Anderson