Search
Abstract
W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną weryfikacje nowych metod testowania.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 136 - 139,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. 10 (2011), s.136-139
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 92 times