Search
Abstract
W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 151 - 154,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Lentka G., Michalkiewicz M.: Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9a (2011), s.151-154
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 123 times