Search
New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification
Abstract
W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz długości nacięcia laserowego. Porównano stabilność długoterminową, długości pobudzenia impulsowego i szumy niskoczęstotliwościowe dla rezystorów 2- i 3-kontaktowych.
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
no. 45,
pages 1941 - 1948,
ISSN: 0026-2714 - Language:
- English
- Publication year:
- 2005
- Bibliographic description:
- Wroński M., Kamiński S., Miś E., Dziedzic A.: New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 45., (2005), s.1941-1948
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 95 times
Recommended for you
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
- J. Juuti,
- A. Łoziński,
- S. Leppavuori
2004