Search
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
Abstract
Przedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji układu. Wyzerowanie sygnału odpowiedzi w określonym przedziale czasu po zakończeniu pobudzenia świadczy o sprawności układu. Zaprezentowano wyniki badań symulacyjnych oraz weryfikacji praktycznej metody na przykładzie dolnoprzepustowego filtru 2 i 4 rzędu.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Measurement Automation Monitoring
no. 53,
pages 739 - 742,
ISSN: 2450-2855 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2007
- Bibliographic description:
- Załęski D., Bartosiński B., Zielonko R.: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 53., nr. nr 9 bis (2007), s.739-742
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 65 times