Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses

Abstract

W artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni pomiarowej. Metoda może być użyta do detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych elementów biernych układu ananlogowego. Do konwersji wyników pomiarowych do postaci wymaganej przez algorytmy detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz do tworzenia słownika uszkodzeń użyto zmodyfikowanych wzorów na DFT.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Language:
English
Publication year:
2012
Bibliographic description:
Czaja Z.: Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses// / : , 2012,
Sources of funding:
  • Free publication
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 39 times

Recommended for you

Meta Tags