Search
Abstract
Przedstawiono wyniki badań wymiarów mikroziaren ściernych stosowanych w operacjach docierania. Badania z wykorzystaniem analizatora laserowego poprzedziła analiza mikroskopowa rzutów mikroziaren na płaszczyznę obserwacji. Analizowano wymiary (długość i szerokość) oraz pole powierzchni jego obrazu. Pomiary przeprowadzono na skomputeryzowanym stanowisku, wyposażonym w mikroskop stereoskopowy, kamerę CCD i oprogramowanie MultiScan v6.08
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006 strony 15 - 16
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Barylski A.: Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych// Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006/ Warszawa: Inst. Syst. Elektron. Wydz. Elektron. WAT, 2006, s.15-16
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 124 times