Abstract

Optyczna tomografia koherentna (OCT) jest metodą obrazowania wewnętrznej struktury obiektów rozpraszających promieniowanie optyczne. Metoda ta wykorzystuje interferometrię niskokoherentą do pomiaru czasu przelotu promieniowania wstecznie rozproszonego od elementów struktury obrazowanego obiektu z rozdzielczością w zakresie od jednego do kilkunastu mikrometrów. Rozprawa dotyczy dwóch rozszerzeń metody OCT. Pierwsze z nich – polaryzacyjna optyczna tomografia koherentna (PS-OCT) pozwala na pomiar stanu polaryzacji promieniowania, co z kolei umożliwia pomiar dwójłomności badanego obiektu. Drugie – spektroskopowa optyczna tomografia koherentna (S-OCT) wykorzystuje czasowo-częstotliwościową analizę sygnału interferencyjnego do jednoczesnego pomiaru czasu przelotu i widmowej gęstości mocy promieniowania. Wykorzystując analizy numeryczne i wyniki eksperymentalne, autor rozprawy pokazuje, że właściwe wykorzystanie techniki S-OCT pozwala na obserwację w obrazie obecności struktur o grubościach mniejszych niż pozwala na to wyłącznie klasyczne przetwarzanie sygnału interferencyjnego. Ponadto, analizując skany OCT warstw polimerowych i ciekłokrystalicznych autor pokazuje, że połączenie metod PS-OCT i S-OCT pozwala na pomiar dwójłomności warstw, wprowadzających między promieniowanie o dwóch ortogonalnych stanach polaryzacji bardzo duże kąty retardacji fazowej (większe niż 180°), co nie jest możliwe przy wykorzystaniu wyłącznie metody PS-OCT.

Author (1)