Zastosowanie sygnałów o projektowanych kształtach do diagnostyki obiektów wysoko-impedancyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej
Abstract
W artykule przedstawiono metodę szybkiej spektroskopii impedancyjnej obiektów o wysokich impedancjach (|Zx| > 1 GOhm) z zastosowaniem sygnałów o projektowanych kształtach. Sygnał pobudzenia wytwarzany jest w module DAQ U2531A i doprowadzany na wejście badanego obiektu za pośrednictwem przetwornika cyfrowo-analogowego (CA). Sygnały odpowiedzi proporcjonalne do napięcia na mierzonej impedancji Zx oraz prądu płynącego przez Zx są próbkowane za pośrednictwem przetworników analogowo-cyfrowych (AC) w module DAQ. Widmo impedancyjne wyznaczane jest na podstawie ciągłych transformat Fouriera zarejestrowanych sygnałów. W artykule dokonano porównania właściwości sygnałów pobudzenia, pod kątem dokładności wyznaczania widma impedancyjnego, na przykładzie wieloelementowego dwójnika RC modelującego powłokę antykorozyjną.
Author (1)
Cite as
Full text
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
- open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 182 - 185,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2014
- Bibliographic description:
- Kowalewski M.: Zastosowanie sygnałów o projektowanych kształtach do diagnostyki obiektów wysoko-impedancyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 8 (2014), s.182-185
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 109 times
Recommended for you
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski