Filters
total: 7
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (5)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Research PotentialBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Zespół Katedry Fizyki Teoretycznej i Informatyki Kwantowej
Research PotentialPrace naukowe prowadzone w Katedrze dotyczą współczesnych zagadnień fizyki teoretycznej i informatyki kwantowej. W ramach współpracy międzynarodowej stworzony został w Katedrze program komputerowy umożliwiający obliczanie relatywistycznych przejść w atomach i jonach. Jego celem jest dostarczenie danych atomowych potrzebnych do interpretacji pomiarów plazmy astrofizycznej i laboratoryjnej. Dane atomowe obejmują nie tylko siły oscylatorów...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Business OfferBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Other results Pokaż wszystkie wyniki (26)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Optical properties of boron-doped nanocrystalline diamond films studied by spectroscopic ellipsometry
PublicationThe optical properties of boron-doped nanocrystalline diamond films, coated using Microwave Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (μPE CVD) system, were analyzed by spectroscopic ellipsometry. Diamond films were deposited on silicon substrates. The ellipsometry data (refractive index (n(λ)), extinction coefficient (k(λ)) were modeled using dedicated software. Evolution of the optical structure with boron doping was observed...
-
P3HT:PCBM blend films phase diagram on the base of variable-temperature spectroscopic ellipsometry
Publication -
Phase diagram of P3HT:PC70BM thin films based on variable-temperature spectroscopic ellipsometry
Publication -
The Influence of PEDOT to PSS Ratio on the Optical Properties of PEDOT:PSS Thin Solid Films - Insight from Spectroscopic Ellipsometry
Publication -
Tailoring optical constants of few-layer black phosphorus coatings: Spectroscopic ellipsometry approach supported by ab-initio simulation
Publication2D black phosphorus (BP) has attracted extensive attention as an anisotropic platform for novel optoelectronic and polarizing optics applications. Insight into the factors that tune the optical and polarizing properties of 2D BP reveals their essential influence on BP-based photonic and optoelectronic devices. In this work, studies of the optical constants of few-layer black phosphorus coatings are studied and discussed, with particular...