Search
Filters
total: 146
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (110)
Search results for: mott-schottky
-
Zespół organicznych ogniw fotowoltaicznych i fotodetektorów
Research PotentialTematyka badawcza Zespołu OOFiF związana jest z własnościami fotowoltaicznymi wielowarstwowych układów zbudowanych z organicznych i nieorganicznych warstw nanoszonych techniką próżniową lub z roztworu.
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Research PotentialBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (36)
Search results for: mott-schottky
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Business OfferBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
DS2
Business Offer -
Laboratorium Badań Terenowych
Business Offerdiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
Other results Pokaż wszystkie wyniki (4105)
Search results for: mott-schottky
-
Selection of measurement frequency in Mott–Schottky analysis of passive layer on nickel
Publication -
Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel
PublicationPrzedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.
-
On doubts about Mott-Schottky plot of organic planar heterojunction in photovoltaic cell
PublicationNa wykresie Motta-Schottky'ego przedstawione są wyniki pomiarów przeprowadzonych na komórkach fotowoltaicznych z planarnym heterozłączem organicznym. W pracy pokazano, że fotowoltaiczne układy z planarnym heterozłączem organicznym, podobnie jak planarne złącza półprzewodnikowe, mogą prowadzić do liniowych charakterystyk na wykresie Motta-Schottky'ego. Pokazano jednak, że parametry uzyskane z analizy otrzymanych prostych nie mogą...
-
The Mott-Schottky characteristics of microwave pulsed-plasma polymerized allylamine by DEIS analysis
Open Research DataThe dataset contains the results obtained for the Mott-Schottky analysis of the microwave pulsed-plasma polymerized allylamine using the multifrequency perturbation signal with Dynamic Electrochemical Impedance Spectroscopy (DEIS) technique. The results were obtained using the perturbation composed of the elementary signals with a frequency range between...
-
Small-signal admittance for Schottky-Richardson emission into an organic layer
PublicationPraca przedstawia małosygnalową admitancję emisji Schottky'ego-Richardsona do warstwy organicznej. Analiza obejmuje obie składowe zespolonej odpowiedzi.