dr hab. inż. Jerzy Pluciński
Employment
- Associate professor at Department of Metrology and Optoelectronics
Social media
Contact
- jerpluci@pg.edu.pl
Associate professor
- Department of Metrology and Optoelectronics
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Workplace
-
Budynek A Elektroniki
room EA 355 open in new tab - Phone
- (58) 347 26 42
- pluc@eti.pg.edu.pl
Publication showcase
-
New aspects in assessment of changes in width of subarachnoid space with near-infrared transillumination/backscattering sounding, part 1: Monte Carlo numerical modeling
W pracy wykorzystano zmodyfikowaną metodę Monte Carlo do numerycznego modelowania propagacji promieniowania z zakresu bliskiej podczerwieni w warstwach anatomicznych głowy. Badano efekt zmian szerokości warstwy podpajęczynówkowej pod wpływem tętna na natężenie promieniowania wstecznie rozpraszanego. Przeprowadzone obliczenia pokazały, że możliwe jest monitorowanie zmian tej szerokości na podstawie pomiarów transmisji promieniowania...
-
Non-destructive inspection of anti-corrosion protective coatings using optical coherent tomography
W artykule przedstawiono zastosowanie optycznej tomografii koherentnej (OCT) do badania antykorozyjnych powłok ochronnych. Omówiono właściwości optycznej interferometrii niskokoherentnej jako zastosowanej metody pomiarowej, opisano budowę pomiarowego systemu OCT, zbudowanego w Katedrze Metrologii i Optoelektroniki WETI PG. Przy pomocy zrealizowanego systemu przebadano grupę powierzchni metalicznych pokrytych różnymi powłokami antykorozyjnymi....
-
Optically transparent boron-doped nanocrystalline diamond films for spectroelectrochemical measurements on different substrates
Fabrication process of optically transparent boron nanocrystalline diamond (BNCD) electrode on silicon and quartz substrate was shown. The B-NCD films were deposited on the substrates using Microwave Plasma Assisted Chemical Vapor Deposition (MWPACVD) at glass substrate temperature of 475 ºC. A homogenous, continuous and polycrystalline surface morphology with high sp3 content in B-NCD films and film thickness depending from substrate...
Obtained scientific degrees/titles
-
2010-12-14
Obtained science degree
dr hab. inż. Electronics (Technology) -
1994-10-18
Obtained science degree
dr inż. Electronics (Technology)
seen 2332 times