MEASUREMENT - Journal - MOST Wiedzy

Search

MEASUREMENT

ISSN:

0263-2241

eISSN:

1873-412X

Disciplines
(Field of Science):

  • Automation, electronic and electrical engineering (Engineering and Technology)
  • Biomedical engineering (Engineering and Technology)
  • Chemical engineering (Engineering and Technology)
  • Civil engineering and transport (Engineering and Technology)
  • Materials engineering (Engineering and Technology)
  • Mechanical engineering (Engineering and Technology)
  • Environmental engineering, mining and energy (Engineering and Technology)
  • Pharmacology and pharmacy (Medical and Health Sciences )
  • Forestry (Agricultural sciences)
  • Agriculture and horticulture (Agricultural sciences)
  • Security studies (Social studies)
  • Management and quality studies (Social studies)
  • Astronomy (Natural sciences)
  • Chemical sciences (Natural sciences)
  • Physical sciences (Natural sciences)

Ministry points: Help

Ministry points - current year
Year Points List
2021 200 Ministry Scored Journals List 2019
Ministry points - previous years
Year Points List
2021 200 Ministry Scored Journals List 2019
2020 200 Ministry Scored Journals List 2019
2019 200 Ministry Scored Journals List 2019
2018 30 A
2017 30 A
2016 30 A
2015 30 A
2014 30 A
2013 30 A
2012 25 A
2011 25 A
2010 27 A
2009 27 A
2008 27 A

Model:

Hybrid

Points CiteScore:

Points CiteScore - current year
Year Points
2019 5.5
Points CiteScore - previous years
Year Points
2019 5.5
2018 4.9
2017 4.5
2016 4
2015 3.6
2014 2.9
2013 2.4
2012 2.2
2011 1.8

Impact Factor:

Log in to see the Impact Factor.

Filters

total: 30

  • Category
  • Year
  • Options

Catalog Journals

2021
2020
2019
2018
2017
2013
  • Effect of waviness and roughness components on transverse profiles of turned surfaces
    Publication

    This paper presents the authors method of simultaneous analysis of roughness and waviness irregularity components, with the aim of better defining the key qualities and characteristics.Periodical surface machining traces may be analyzed spectrally, with the irregularity's peaks and troughs being used to define the wave's amplitude.In this work the standard composition for filtering waviness and roughness components of a surface...

    Full text in external service

2010
2009
2008
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publication

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwości od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

2007
  • An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer
    Publication

    W artykule przedstawiono sondę będącą obwodem wejściowym analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Sonda umożliwia pomiar impedancji jednym zaciskiem uziemnionej w zakresie od 100ohm do 100Gohm. Sonda umożliwia wydzielenie dwóch sygnałów proporcjonalnych do prądu i napięcia na impedancji mierzonej w szerokim zakresie częstotliwosci od 100uHz do 100MHz.Przeprowadzono analizę sondy w której uwzględniono najważniejsze czynniki...

    Full text in external service

2006
  • A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
    Publication

    Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...

    Full text in external service

2002

seen 2694 times