MICROELECTRONICS RELIABILITY - Journal - Bridge of Knowledge

Search

MICROELECTRONICS RELIABILITY

ISSN:

0026-2714

Disciplines
(Field of Science):

  • Automation, electronics, electrical engineering and space technologies (Engineering and Technology)
  • Biomedical engineering (Engineering and Technology)
  • Civil engineering, geodesy and transport (Engineering and Technology)
  • Materials engineering (Engineering and Technology)
  • Environmental engineering, mining and energy (Engineering and Technology)
  • Physical sciences (Natural sciences)

Ministry points: Help

Ministry points - current year
Year Points List
Year 2024 70 Ministry scored journals list 2024
Ministry points - previous years
Year Points List
2024 70 Ministry scored journals list 2024
2023 70 Ministry Scored Journals List
2022 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2021 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2020 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2019 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 20 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 27 A

Model:

Hybrid

Points CiteScore:

Points CiteScore - current year
Year Points
Year 2022 2.8
Points CiteScore - previous years
Year Points
2022 2.8
2021 3.5
2020 3.6
2019 3.1
2018 2.6
2017 2.6
2016 2.6
2015 3.2
2014 3
2013 2.7
2012 2.4
2011 2.3

Impact Factor:

Log in to see the Impact Factor.

Filters

total: 11

  • Category
  • Year

clear Chosen catalog filters disabled

Catalog Journals

Year 2018
Year 2014
  • Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise

    Noise has been used as a diagnostic tool of surge arrester varistor structures comprising of ZnO grains of various type and size. The physical and electrical properties of the measured samples have been described. In the experimental study, the applied measurement system and the results of noise measurements for the selected structures of varistors designed for the continuous working voltage 280 V, 440 V and 660 V have been presented....

    Full text to download in external service

Year 2012
  • Quality testing methods of foil-based capacitors
    Publication

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Year 2012

    Kondensatory foliowe są powszechnie stosowanymi elementami pasywnymi w ukłądach zasilania. Dotychczasowe metody oceny ich jakości są długotrwałe oraz zużywają energię. W pracy przedstawiono propozycje szeregu nowych, bardziej efektywnych metod, które mogą być z sukcesem stosowane podczas ich produkcji.

    Full text to download in external service

Year 2011
Year 2009
Year 2008
  • Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors
    Publication
    • K. Mleczko
    • Z. Zawiślak
    • A. W. Stadtler
    • A. Kolek
    • A. [. Dziedzic
    • J. A. Cichosz

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Year 2008

    Spektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.

    Full text to download in external service

  • Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality
    Publication

    Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...

    Full text to download in external service

  • Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
    Publication

    Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...

    Full text to download in external service

Year 2005
Year 2002

seen 427 times