Search
Abstract
Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego ze skanowaniem powierzchni przy użyciu AFM.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS
no. 9,
ISSN: 1468-6996 - Language:
- English
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Darowicki K., Zieliński A., Kurzydłowski J. K.: Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy// SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS. -Vol. 9., iss. 4 (2008), s.045006-
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 164 times