Search
Abstract
Praca zawiera opis wybranych metod pomiarów elektrycznych cienkich warstw tlenkowych wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego. Omówiono metody pomiaru i stanowiska pomiarowe używane do mierzenia parametrów elektrycznych warstw tlenkowych. Zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów cienkich warstw opartych na tlenku tytanu.
Authors (6)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- I Sympozjum: Fotowoltaika i transparentna elektronika - perspektywy rozwoju, referaty plenarne, Kozy 12.01.2010 strony 0 - 38
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2010
- Bibliographic description:
- Łapiński M., Domaradzki J., Kaczmarek D., Prociów E., Sieradzka K., Mazur M.: Badanie właściwości elektrycznych powłok optycznych wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego// I Sympozjum: Fotowoltaika i transparentna elektronika - perspektywy rozwoju, referaty plenarne, Kozy 12.01.2010/ ed. ed. Jarosław Domaradzki Wrocław: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2010, s.0-38
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 168 times
Recommended for you
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
2009
CdS thin films obtained by thermal treatment of cadmium(II) complexprecursor deposited by MAPLE technique
- A. Rotaru,
- A. Mietlarek-Kropidłowska,
- C. Constantinescu
- + 8 authors
2009