Search
Abstract
Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych SCANSTA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów i uzyskane dokładności. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań w zakresie testowania oraz programowania systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
no. T. 16,
pages 489 - 494,
ISSN: 1732-1166 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. T. 16., (2008), s.489-494
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 122 times