Search
Abstract
Przedstawiono przykład zastosowania techniki elipsometrii monochromatycznej w celu określenia dynamiki wzrostu warstw tlenkowych i wodorotlenkowych na miedzi w środowisku 0.1M NaOH. Badania te stanowią część projektu skupiającego się na oznaczeniu fizycznych i elektrycznych własności tlenku miedzi (I) oraz tlenku miedzi (II) podczas procesu formowania się warstwy. Jednoczesne pomiary elipsometryczne i impedancyjne są nowatorskie w skali światowej. W pracy tej, autorzy wyznaczają model optyczny dla układu wielowarstwowego, a także dyskutują możliwą strukturę powłoki. Implementacja aproksymacji EMA a także algorytm optymalizacji bazujący na przekształceniu Lavenberga-Marquardta zapewniają wysokie dopasowanie modelu do danych pomiarowych.
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY
no. 13,
pages 1639 - 1644,
ISSN: 1432-8488 - Language:
- English
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Bogdanowicz R., Ryl J., Darowicki K., Kosmowski B.: Ellipsometry study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH // JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY. -Vol. 13, nr. iss. 11 (2009), s.1639-1644
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 65 times