Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces - Publication - MOST Wiedzy

Search

Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces

Abstract

Przedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń podwójnych. Przedstawionorezultaty badań eksperymantalnych metody 4D weryfikujących użyteczność no-wych metod oraz implementację tej metdoy w sztucznej sieci neuronowej.

Citations

  • 2 2

    CrossRef

  • 2 6

    Web of Science

  • 3 9

    Scopus

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Details

Category:
Articles
Type:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Published in:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT no. 52, pages 97 - 102,
ISSN: 0018-9456
Language:
English
Publication year:
2003
Bibliographic description:
Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 52., nr. 1 (2003), s.97-102
DOI:
Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1109/tim.2003.809075
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 10 times

Recommended for you

Meta Tags