Search
Abstract
Przedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej metody.
Citations
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1
Scopus
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
no. 18,
pages 186 - 195,
ISSN: 1431-9276 - Language:
- English
- Publication year:
- 2012
- Bibliographic description:
- Kiwilszo M., Zieliński A., Smulko J., Darowicki K.: Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 18, nr. Iss. 1 (2012), s.186-195
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1017/s1431927611012281
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 83 times
Recommended for you
Decoding of the FSK signal with noise and distortion with the use of coefficients of the time-frequency transform.
- D. Rabczuk,
- B. Pałczyńska,
- L. Spiralski
2004