Search
Abstract
Przedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v.6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22 Micro Tec mikroziaren czarnego węglika krzemu o numerze F32/29. Dokonano przeglądu konstrukcji najnowszych analizatorów czołowych producentów światowych.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Monographic publication
- Type:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Title of issue:
- Informatyka w technice. Tom 2 strony 103 - 114
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Barylski A.: Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych// Informatyka w technice. Tom 2/ ed. pod red. K. Lenika, G. Borowskiego Lublin: Lubelskie Towarzystwo Naukowe, 2008, s.103-114
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 79 times