Abstract
W pracy przedstawiono aktualny stan metrologii optycznej wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) i omówiono niedoskonałości obecnych technik pomiarowych występujące w charakteryzacji wyświetlaczy o wysokiej wierności odwzorowania. Zaprezentowano urządzenia, procedury pomiarowe i metody obróbki danych umożliwiajace obiektywną ocenę właściwości ciekłokrystalicznych odbiorników telewizyjnych.Metody te umożliwiają identyfikację artefaktów występujących w procesie wyświetlania obrazów ruchomych, określenie wierności odwzorowania kolorów i odcieni szarości w pełnym zakresie kątów obserwacji w warunakch rzeczywistego oświetlenia zewnętrznego.Przedstawiono nowe rozwiązanie procesu pomiarowego, w któym dokonywany jest jednoczesny pomiar dziewięciu charakterystyk widmowych, przez co możliwe jest uzyskanie krótkiego czasu pomiaru i dużej dokładności uzyskiwanych daynch kolorymetrycznych.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language:
- English
- Publication year:
- 2005
- Bibliographic description:
- Becker M., Kosmowski B.: Optical metrology for high fidelity LCD-TV// . -., (2005),
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 109 times