Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

..

full text is not available in portal

Category:: Conference activity
Type:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Title of issue:: VI Kongres Metrologii : Metrologia królową badań stosowanych strony 321 - 322
Language:: Polish
Publication year:: 2013
Bibliographic description:: Czaja Z.: Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A// VI Kongres Metrologii : Metrologia królową badań stosowanych/ Kielce: Politechnika Świętokrzyska, 2013, s.321-322
Verified by:: Gdańsk University of Technology