Search
Abstract
Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.
Cite as
Full text
download paper
downloaded 26 times
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Diagnostyka
pages 127 - 130,
ISSN: 1641-6414 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych// Diagnostyka. -., iss. nr 1=45 (2008), s.127-130
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 109 times