Search
Abstract
Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD] strony 114 - 115
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Projektowanie testu układu elektronicznego// IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD]/ ed. Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej Warszawa: Wojskowa Akademia Techniczna, 2011, s.114-115
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 60 times