Search
Abstract
Zaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych. Cechuje się niewielką złożonością obliczeniową, dzięki czemu jej procedury diagnostyczne mogą być realizowane przez proste 8-bitowe mikrokontrolery powszechnie używane w praktyce. Ponadto nie wymaga rozbudowy mikrosystemu o dodatkowe elementy (BIST), gdyż do generacji przebiegu prostokątnego i pomiaru próbek napięcia odpowiedzi testowanej części analogowej wystarczają zasoby wewnętrzne mikrokontrolera takie jak: wyjścia cyfrowe, liczniki i przetworniki analogowo-cyfrowe.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.// / : , 2004,
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 63 times