Search
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Homepage
https://eti.pg.edu.pl/katedra-metrologii-i-optoelektroniki/o-katedrze open in new tabAssociated units:
Research fields
Team
Sylwia Babicz-Kiewlicz
dr inż.
Bogdan Bartosiński
dr inż.
Robert Bogdanowicz
dr hab. inż.
Zbigniew Czaja
dr hab. inż.
Mateusz Ficek
dr inż.
Stanisław Galla
dr inż.
Marcin Gnyba
dr hab. inż.
Katarzyna Karpienko
dr inż.
Michał Kowalewski
dr inż.
Maciej Kraszewski
mgr inż.
Andrzej Kwiatkowski
dr inż.
Grzegorz Lentka
dr hab. inż.
Adam Mazikowski
dr inż.
Jerzy Pluciński
dr hab. inż.
Jerzy Pluciński
dr hab. inż.
Marek Sienkiewicz
inż.
Barbara Stawarz-Graczyk
dr inż.
Marcin Strąkowski
dr inż.
Małgorzata Szczerska
dr hab. inż.
Arkadiusz Szewczyk
dr inż.
Wojciech Toczek
dr hab. inż.
Paweł Wierzba
dr hab. inż.
Maciej Wróbel
dr inż.Research topics
- komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka
- projektowanie systemów
- mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych
- testowanie i diagnostyka elektroniczna
- pomiary właściwości szumowych i zakłóceń
- spektroskopia impedancyjna
- telemetria i telediagnostyka internetowa
- katedra redaguje Metrology and Measurement Systems
- kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Research methods
- zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
- modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
- badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
- badania w zakresie systemów wizualizacji informacji oraz systemów rzeczywistości wirtualnej
- inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC), oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
- zastosowanie materiałów ciekłokrystalicznych w technice pomiarowej
- spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych
Orders
-
Oferta Badawcza - * zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
* modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
* badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
* badania i optymalizacja konstrukcji barwnych displejów ciekłokrystalicznych
* inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC) oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
* spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych
* komputerowa analiza i projektowanie układów elektronicznych
* metrologia i diagnostyka wspomagana komputerowo
* pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa
* projektowanie systemów, mikro- i makrosystemów elektronicznych, systemów wbudowanych
* testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych elementów i zakłóceń w układach elektronicznych
* niezawodność elementów, podzespołów i układów elektronicznych
* kompatybilność elektromagnetyczna
* badanie właściwości czujników gazu
* spektroskopia Ramana
* przetwarzanie danych (np. w aplikacjach Internet of Things)
-
Oferta Usługowa - * badania kolorymetryczne obiektów (np. na potrzeby techniki, sztuki )
* charakteryzacja źródeł światła i displejów
* badania materiałów i wyrobów optyczną tomografią koherentną
* szkolenia i konsultacje w zakresie wdrożenia niskokoherencyjnych technik pomiarowych oraz pomiarów sygnałów optycznych małej mocy.
* zastosowanie sensorów światłowodowych w przemyśle, energetyce, budownictwie
* konsultacje i projektowanie systemów próżniowych, procesów syntezy warstw PV oraz PA CVD
* pomiary widmowe i reflektometryczne w sieciach światłowodowych
* integracja systemów spektroskopii Ramana oraz systemów kontrolnych i pomiarowych sterowanych komputerowo
* diagnostyka elementów elektronicznych
* badanie kompatybilności elektromagnetycznej
* przenośne systemy spektroskopii Ramana
Verified by
No verification
seen 571 times