Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 699
-
Catalog
- Publications 386 available results
- Journals 5 available results
- People 42 available results
- Inventions 10 available results
- Projects 2 available results
- Laboratories 6 available results
- Research Teams 13 available results
- Research Equipment 4 available results
- e-Learning Courses 199 available results
- Events 5 available results
- Open Research Data 27 available results
Search results for: diagnostyka ukladow elektronicznych
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublicationPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublicationNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublicationPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Projektowanie układów elektronicznych - 2022
e-Learning CoursesEiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7
-
Projektowanie układów elektronicznych - 2023
e-Learning CoursesEiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Teams* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Krzysztof Karwowski dr hab. inż.
People -
Diagnostyka
Journals -
Internetowa telediagnostyka urządzeń w obsłudze serwisowej.
PublicationPrzedstawiono system diagnostyczny do zdalnego testowania i lokalizowania uszkodzeń w elektronicznych podzespołach urządzeń powszechnego użytku. System składa się ze stanowiska doświadczalnego do konfigurowania i weryfikowania procedur diagnostycznych oraz prototypowego układu testera wbudowanego z dostępem internetowym. Zdalna diagnostyka jest rozpatrywana w aspekcie obsługi posprzedażnej w systemach CRM.