Search
Search results for: elementy polprzewodnikowe
-
Ocena jakości elementów z węglika krzemu metodą pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono zagadnienie powiązania parametrów szumowych elementów elektronicznych z jakością ich wykonania. Przedstawiono stan badań intensywności metod oceny jakości elementów elektronicznych przez pomiar ich parametrów szumowych oraz propozycję ich zastosowania do oceny jakości elementów z węglika krzemu.
-
Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components
PublicationOpisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.
-
Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych.
PublicationPrzedstawiono metody identyfikacji szumów RTS. Zaproponowano graficzną metodę identyfikacji tych szumów oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania inpulsów. Metodę oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania impulsów opisano na przykładzie oceny szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych z zakresu małych częstotliwości.
-
Modelowanie szumów RTS
PublicationPrzytoczono charakterystyczne parametry szumu wybuchowego (Random Telegraph Signal, RTS). Przedstawiono algorytm programowego generatora szumów RTS. Algorytm został wyposażony w możliwość dodawania do wygenerowanych impulsów RTS szumu białego oraz szumu typu 1/f. Przedstawiono przykładowe realizacje wygenerowanych przebiegów.
-
Modelowanie szumów RTS
PublicationPrzytoczono charakterystyczne parametry szumu wybuchowego (Random Telegraph Signal, RTS). Przedstawiono algorytm programowego generatora szumów RTS. Algorytm został wyposażony w możliwość dodawania do wygenerowanych impulsów RTS szumu białego oraz szumu typu 1/f. Przedstawiono przykładowe realizacje wygenerowanych przebiegów.
-
A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification
PublicationIn the paper, a new method, called the noise scatterin pattern method (NSP method), for random telegraph signal noise identyfication in the inherent noise of semiconductor devices is described. A block diagram of a noise measurement system based on the NSP method is presented. Examples of patterns of the NSP method are presented.