Department of Metrology and Optoelectronics - Administrative Units - Bridge of Knowledge

Search

Department of Metrology and Optoelectronics

Filters

total: 422

  • Category
  • Year
  • Options

clear Chosen catalog filters disabled

Catalog Publications

Year 2011
Year 2006
Year 2005
  • A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space
    Publication

    - Year 2005

    Przedstawiono nową wersję 3-D nowej metody diagnostycznej części analogowych w mieszanych sygnałowo systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Bazuje ona na krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni 3-D i pomiarze próbek napięcia odpowiedzi układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym. Zalety metody: pomiary są wykonywane wyłącznie za pomocą urządzeń peryferyjnych popularnych mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna...

  • A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise
    Publication

    Przedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.

  • A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
    Publication

    - Year 2005

    W artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...

  • Accelerated Monte Carlo method for computation of photon migration by matrix description of photon direction
    Publication

    Przedstawiono metodę obliczeń dyfuzji fotonów w materiałach silnie rozpraszających, będącą modyfikacją metody Monte Carlo. Modyfikacja ta polega na zastąpieniu wektorowego opisu kierunku propagacji fotonów poprzez opis macierzowy, co pozwala na około 5% redukcję czasu obliczeń na komputerach z jednopotokowym przetwarzaniem zmiennopozycyjnym lub większą w wypadku wielopotokowego przetwarzania.

    Full text available to download

  • Accuracy improvement of bulk optical polarization interferometric sensors
    Publication

    - Year 2005

    W artykule przedstawiono optyczne czujniki wykorzystujące interferometrię polaryzacyjną. Omówiono czynniki obniżające ich dokładność pomiaru. Zaprezentowano metodę obróbki sygnału,która umożliwia częściową eliminację wpływu tych czynników i nową implementację tej metody, wykorzystującą układ analogowy o znacznie zmniejszonej nieliniowości.

  • Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej powłok antykorozyjnych
    Publication

    - Year 2005

    W pracy przedstawiono analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej, w którym zastosowano sondę wejściową umożliwiającą pomiary impedancji do |Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości od 10uHz-1MHz. Opracowano metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów za pomocą algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. W pracy omówiono rozwiązania układowe i programistyczne, zastosowane...

  • Applications of polarization interferometry in optical sensors
    Publication

    - Year 2005

    W artykule przedstawiono wybrane realizacje interferometrycznych czujników przesunięcia, wykonanych z elementów optyki objętościowej. Czujniki te, stosowane w technice pomiarowej i mikroskopii, charakteryzują się dużą rozdzielczością i dokładnością pomiaru. Omówiono problemy związane z implementacją tych czujników, wpływające na pogorszenie dokładności pomiaru. Zaprezentowano metody korekcji sygnału wyjściowego, opracowane dla...

  • Applying of the optical time-of-flight spectroscopy for the paper and pulp characterization
    Publication

    - Year 2005

    W pracy przedstawiono korzyści wykorzystania optycznej spektroskopii czasu przelotu w badaniach papieru i miazgi drzewnej. Przedmiotem badań były różne gatunki papieru oraz miazgi drzewnej (bez obróbki cieplnej, po obróbce cieplnej lub po obróbce chemicznej). W pomiarach wykorzystano półprzewodnikowe lasery impulsowe oraz w charakterze fotoodbiorników kamerę smugową lub licznik fotonów.

Year 2009
  • A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
    Publication

    - MEASUREMENT - Year 2009

    Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...

    Full text available to download

  • Analyzer for spectroscopy of low-impedance objects

    W artykule przedstawiono analizator umożliwiający pomiar impedancji w zakresie 1 ohma < |Zx| < 100 Mohma. Zastosowano w nim nowe rozwiązania dotyczące obwodu wejściowego i techniki detekcji fazoczułej sygnałów pomiarowych. Obwód wejściowy zaprojektowano w postaci 5-zaciskowej sondy pomiarowej, która umożliwia ograniczenie wpływu rezystancji, indukcyjności i pojemności pasożytniczych na błąd pomiaru impedancji w szerokim przedziale...

    Full text available to download

Year 2010
Year 2012
Year 2004
Year 2008
Year 2018
Year 2017
Year 2015
Year 2013
Year 2007
Year 2016