Metrologia warsztatowa i komputerowa, W, L, C, IMM, sem.02, letni 2022/2023

Metrologia i systemy pomiarowe, ZiIP, 2022/2023 semestr letni

Mikro i nanotechnologie elementów konstrukcyjnych, W, L, S, Nanotech, sem.06, letni 2022/2023

Metrology and Measurement Systems , DaPE, sem01, summer 22/23

Metrologia i systemy pomiarowe, W, L, C, Mtr, sem.03, zimowy 22/23

Metrologia i systemy pomiarowe, W, L, C, MiBM, niest., sem.04, letni 2022/2023

Metrologia i systemy pomiarowe, MiBM, 2022/2023 semestr letni

Materiały konstrukcyjne, L, Mech, sem.01, zimowy 22/23

Specyfikacja geometryczna wyrobu, Ć, ZiIP, st. II, sem. 1, letni, 2023/2024, PG_00059493

Metrology and Measurement Systems , DaPE, sem01, summer 23/24

Mikro- i nanotechnologie elementów konstrukcyjnych (PG_00052097), Nanotechnologia, sem. 6, stacjonarne I-st., letni 2023/2024

Zaawansowane urządzenia technologiczne i kontrolne, W, MiBM, sem. 5, zimowy 2023/2024

Metrologia i Systemy Pomiarowe (PG_00055375), MiBM, sem. 02, stacjonarne I st., letni 2023/2024

Zaawansowane systemy pomiarowe, W, ZiIP, st. II, sem. 1, letni, 2023/2024, PG_00059489

Zaawansowane systemy pomiarowe, PG_00059489

Zaawansowane systemy pomiarowe, L MiBM, sem. 2 st. II, zima 2022/2023

Metrologia i systemy pomiarowe, ZiIP, st. I, sem. 2, letni, 2023/2024, PG_00055050

Zaawansowane urządzenia technologiczne i kontrolne, L, MiBM, sem. 5, zimowy 2023/2024

Zaawansowane systemy pomiarowe, W, MiBM, sem. 2 st. II, zima 2022/2023

Metrologia i systemy pomiarowe (PG_00055412), Mtr., sem. 03, zimowy 2023/2024

Specyfikacja geometryczna wyrobu, L, ZiIP, st. II, sem. 1, letni, 2023/2024, PG_00059493

Zaawansowane systemy pomiarowe, L, ZiIP, st. II, sem. 1, letni, 2023/2024, PG_00059489

Zaawansowane systemy pomiarowe, W, MiBM, niestacjonarne, sem. 2 st. II, zimowy 2023/2024

Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z zaawansowaną aparaturą pomiarową stosowaną w zakładach produkcyjnych oraz trendami ich rozwoju. Zaawansowane urządzenia i systemy pomiarowe. Wizyjne systemy pomiarowe 2D i 3D. Systemy pomiaru kształtu (profilometry, konturografy). Zaawansowane systemy optyczne. Opracowanie programów z wykorzystaniem współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM). Zaawansowane systemy pomiarów właściwości...

Zaawansowane systemy pomiarowe, L, MiBM, niestacjonarne, sem. 2 st. II, zimowy 2023/2024

Specyfikacja geometryczna wyrobu, PG_00059493

Specyfikacja geometryczna wyrobu, W, ZiIP, st. II, sem. 1, letni, 2023/2024, PG_00059493

Metrologia i systemy pomiarowe, Budowa maszyn i okrętów, st. I, sem. 2, letni 2023/2024, PG_00060454

Metrologia warsztatowa i komputerowa (PG_00055745), IMM, stacjonarne I-st., sem 02, letni 2023/2024