The scanning electron microscopy (SEM) studies of heavy boron-doped diamond oxidation under high-temperature
Opis
The dataset contains the results of scanning electron microscopy (SEM) images of heavy boron-doped diamond (BDD) electrodes subjected to high-temperature oxidation in a furnace at 600 Celsius. The micrographs reveal the material decomposition of BDD grains due to high temperature.
These and similar results were part of the studies described within the manuscript in Materials journal (10.3390/ma13040964) and in Ultramicroscopy journal (10.1016/j.ultramic.2019.01.004)
Plik z danymi badawczymi
BDD_furnace.zip
25.1 MB,
S3 ETag
fa2edf79042b816c9e36475a70f10d3c-1,
pobrań: 60
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count}
gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcieCC BYUznanie autorstwa
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2019
- Data zatwierdzenia:
- 2021-03-29
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- Automatyka, elektronika i elektrotechnika (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/9320-0f64 otwiera się w nowej karcie
- Finansowanie:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
- boron-doped diamond
- high-temperature oxidation
- surface electric properties
- scanning electron microscopy
Powiązane zasoby
- publikacja High-Temperature Oxidation of Heavy Boron-Doped Diamond Electrodes: Microstructural and Electrochemical Performance Modification
- publikacja Multifrequency Nanoscale Impedance Microscopy (m-NIM): A novel approach towards detection of selective and subtle modifications on the surface of polycrystalline boron-doped diamond electrodes
- dane badawcze The scanning spreading resistance microscopy (SSRM) studies of heavy boron-doped diamond oxidation under high-temperature
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 156 razy