Thickness profile of thin diamond films on glass substrates

Opis

Thickness profile of thin diamond layers on glass. Results obtained using the Dektak XT device (Bruker). They present a layer thickness profile. allowing to determine the surface roughness and the thickness of the fusion diamond thin layer.

Plik z danymi badawczymi

profilometer date.zip

1.5 MB, S3 ETag 1440e4b7ae0ceab7343df66ac0922dd8-1, pobrań: 2

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2024

Data zatwierdzenia:

2025-03-13

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/khgc-6b60

Finansowanie:

Heterogeniczne diamentowe nanoarchitektury biosensoryczne: opto-elektrochemiczne interakcje z układami przeciwciał

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

Mateusz Ficek dr inż.
Politechnika Gdańska - Katedra Metrologii i Optoelektroniki
numer orcid 0000-0003-2334-9697otwiera się w nowej karcie
Twórca
Robert Bogdanowicz prof. dr hab. inż.
Politechnika Gdańska - Katedra Metrologii i Optoelektroniki
numer orcid 0000-0002-7543-2620otwiera się w nowej karcie
Kierownik projektu

wyświetlono 5 razy

Wyszukiwarka