Wyszukiwarka
Abstrakt
A new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the microcontroller. The obtained set of voltage samples is used to determine values of the sensor model impedance components.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 725 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 37 - 40,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2017
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: A method of measuring RLC components for microcontroller systems// Przegląd Elektrotechniczny. -., nr. 10 (2017), s.37-40
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2017.10.08
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 182 razy