Wyszukiwarka
Abstrakt
W pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.
Cytowania
-
1 3
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 5
Scopus
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
nr 51,
strony 621 - 627,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Smulko J., Józwiak K., Olesz M., Hasse L.: Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 51, nr. iss. 3 (2011), s.621-627
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2010.10.013
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 110 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
System pomiarowo-kontrolny do wielkoseryjnej produkcji kondensatorów przeciwzakłóceniowych o dużej niezawodności
- K. Rogala,
- L. Spiralski,
- J. Turczyński
2002