Wyszukiwarka
Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.
Abstrakt
Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2 strony 215 - 220
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. // MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2/ Warszawa: Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.215-220
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 78 razy