Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy.

Abstrakt

Dynamic impedance spectroscopy, designed for measuring nonstationary systems, was used in combination with scanning probe microscopy. Using this approach, impedance mapping could be carried-out simultaneously with topography scanning. Therefore, correlation of electrical properties with particular phases of an examined sample was possible. The sample used in this study was spheroidal graphite cast iron with clearly defined phases having significantly different properties. Additionally, impedance-force curves were made at graphite precipitation and ferrite matrix to illustrate the relation between impedance and the force applied to a probe.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 2, strony 582 - 585,
ISSN: 1431-9276
Język:
angielski
Rok wydania:
2014
Opis bibliograficzny:
Tobiszewski M., Arutunow A., Darowicki K.: Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy.// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 20, iss. 2 (2014), s.582-585
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 108 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi