Wyszukiwarka
Characteristics of an image sensor with early-vision processing fabricated in standard 0.35 µm CMOS technology
Abstrakt
The article presents measurement results of prototype integrated circuits for acquisition and processing of images in real time. In order to verify a new concept of circuit solutions of analogue image processors, experimental integrated circuits were fabricated. The integrated circuits, designed in a standard 0.35 µm CMOS technology, contain the image sensor and analogue processors that perform low-level convolution-based image processing algorithms. The prototype with a resolution of 32 x 32 pixels allows the acquisition and processing of images at high speed, up to 2000 frames/s. Operation of the prototypes was verified in practice using the developed software and a measurement system based on a FPGA platform.
Cytowania
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
3
Scopus
Autorzy (5)
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.2478/v10178-012-0017-8
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Metrology and Measurement Systems
nr XIX,
strony 191 - 202,
ISSN: 0860-8229 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Jendernalik W., Jakusz J., Blakiewicz G., Szczepański S., Piotrowski R.: Characteristics of an image sensor with early-vision processing fabricated in standard 0.35 µm CMOS technology// Metrology and Measurement Systems. -Vol. XIX, nr. iss. 2 (2012), s.191-202
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.2478/v10178-012-0017-8
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 127 razy