Wyszukiwarka
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
Abstrakt
Przedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej przez amplitudę i fazę jest kształt trajektorii sygnatur uszkodzeń. we współrzednych biegunowych trajektorie mają kształt fragmentów linii prostej lub okręgu o prostym opisie analitycznym. fakt ten implikuje bardzo zwartą formę słownika. bist może być realizowany na bazie własnych zasobów testowanego systemu.
Cytowania
-
8
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 5
Scopus
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
strony 1413 - 1421,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W., Czaja Z.: Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -, (2011), s.1413-1421
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2011.02.022
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 88 razy