Wyszukiwarka
Effect of the let-through energy of overcurrent protective devices on the temperature of conductors during short-circuits
Abstrakt
The scope of the verification of low-voltage systems covers the earth fault loop impedance measurement. This measurement is usually performed with the use of low-value current meters, which force a current many times lower than the one occurring during a real short-circuit. Therefore, the international standard recommends consideration of the increase of resistance of conductors with the increase of temperature, which may occur during short-circuits. This paper analyses the temperature rise of the conductors during short-circuits, taking into account the let-through energy of protection devices. The analysis has shown that in typical circuits the temperature rise of conductors is not significant.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2021.08.05
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 27 - 30,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2021
- Opis bibliograficzny:
- Czapp S., Kowalak D.: Effect of the let-through energy of overcurrent protective devices on the temperature of conductors during short-circuits// Przegląd Elektrotechniczny -Vol. 97,iss. 8 (2021), s.27-30
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2021.08.05
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 139 razy