Wyszukiwarka
New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification
Abstrakt
W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz długości nacięcia laserowego. Porównano stabilność długoterminową, długości pobudzenia impulsowego i szumy niskoczęstotliwościowe dla rezystorów 2- i 3-kontaktowych.
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
nr 45,
strony 1941 - 1948,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2005
- Opis bibliograficzny:
- Wroński M., Kamiński S., Miś E., Dziedzic A.: New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 45., (2005), s.1941-1948
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 95 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
- J. Juuti,
- A. Łoziński,
- S. Leppavuori
2004