Abstrakt
W artykule przedstawiono system pomiarowy ukierunkowany na testowanie i diagnostykę obiektów elektronicznych i nieelektrycznych. Charakterystyczną cechą systemu jest wyposażenie w bibliotekę metod spektroskopii impedancyjnej umożliwiających identyfikację elementów niedostępnych zaciskowo. Omówiono architekturę systemu, podstawy teoretyczne metod wyznaczania widma impedancji oraz przedstawiono wyniki weryfikacji praktycznej metod na przykładzie dwójnika cztero-elementowego RC.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 204 - 207,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Hoja J., Lentka G.: System pomiarowy spektroskopii impedancyjnej do diagnostyki obiektów technicznych// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 10 (2011), s.204-207
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 92 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski
2008