Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
Abstrakt
Przedstawiono dwukanałowy system do pomiaru szumów o bardzo niskim poziomie metodą bezpośrednią. W celu poprawy dokładności pomiaru koherencji między mierzonymi w obu kanałach za pomocą wzmacniaczy transimpedancyjnych prądami szumów proponowany jest dodatkowy etap pomiaru z wykorzystaniem przedwzmacniacza napięciowego oraz włączenie w kanale wejściowym pomiędzy mierzonym czwórnikiem a wzmacniaczem transimpedancyjnym wzmacniacza buforowego o specyficznych właściwościach szumowych, co poprawia stosunek sygnał/szum o około 10 dB. Pomiar sygnałów szumowych o ekstremalnie niskich poziomach (poniżej poziomu szumów własnych przedwzmacniacza wejściowego) umożliwia zastosowanie korelacyjnej metody pomiaru każdego z prądu szumów z wykorzystaniem procedury dodawania oraz odejmowania sygnałów z dwóch torów tego samego kanału pomiarowego w dziedzinie czasu. Przeanalizowano czynniki wpływające na błąd estymacji widma wzajemnego niezbędnego do wyznaczenia funkcji koherencji.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
strony 77 - 84,
ISSN: 1425-5766 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Hasse L.: Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.// Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej. -., nr. 18 (2002), s.77-84
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 88 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
- Z. Chobola,
- L. Hasse,
- J. Sikula
- + 1 autorów