Filtry
wszystkich: 64
wybranych: 54
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: REDUCTIVE RADICAL SPECIES
-
Katedra Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego
Potencjał Badawczy* zasobów, możliwości pozyskania, konwersji, magazynowania i transportu energii ze źródeł odnawialnych, w tym energii słonecznej i biopaliw * możliwości odzyskiwania energii odpadowej w procesach przemysłowych i sposoby jej zagospodarowania * opracowanie procesów technologicznych recyklingu materiałowego zużytych modułów i ogniw fotowoltaicznych * opracowanie procesów technologicznych recyklingu materiałowego zużytych opon samochodowych *...
-
Katedra Mechaniki Budowli
Potencjał BadawczyAktualnie działalność naukowo-badawcza Katedry koncentruje się, na następujących zagadnieniach: modelowanie konstrukcji, identyfikacja modeli, mechanika konstrukcji cienkościennych, konstrukcje kompozytowe, nieliniowa statyka i dynamika, teoria niezawodności, problemy zniszczenia, optymalizacja konstrukcji, analiza wrażliwości, identyfikacja uszkodzeń konstrukcji, analiza wpływu drgań na budowlę, czy biomechanika.
-
Katedra Geotechniki, Geologii i Budownictwa Morskiego
Potencjał Badawczy* badania teoretyczne i doświadczalne oraz analizy numeryczne w Mechanice Gruntów; * badania laboratoryjne i polowe gruntów; * metody wzmacniania podłoża gruntowego; * “zieloną geotechnikę” z zastosowaniem ekologicznych materiałów, technologii i zagospodarowaniem produktów ubocznych; * badania teoretyczne, doświadczalne oraz zagadnienia praktyczne fundamentowania w odniesieniu do fundamentów bezpośrednich i głębokich, tunelowania,...
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Potencjał Badawczy* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...