Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (1)

Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)

Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa

  • Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów

    Zespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (7)

Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa

  • Robert Bogdanowicz dr hab. inż.

    Robert Bogdanowicz received his Ph.D. degree with honours in Electronics from the Gdansk University of Technology. He worked as a post-doc researcher in Ernst-Moritz-Arndt-Universität Greifswald Institut für Physik. He has initiated optical emission imaging of muti-magnetron pulsed plasma and contributed to the development of antibacterial implant coatings deposited by high-power impulse magnetron sputtering. He moved back to...

  • Role of nitrogen in optical and electrical band gaps of hydrogenated/hydrogen free carbon nitride film

    Publikacja

    - THIN SOLID FILMS - Rok 2013

    We report the optical and electrical band gap energy of amorphous hydrogenated carbon nitride (a-HCNx) and carbon nitride (a-CNx) as a function of nitrogen concentration (N/C). The optical band gap of a-HCNx and a-CNx films has been determined by means of Ellipsometry and UV-VIS. Both optical and electrical band gaps increase with elevated nitrogen concentration. Experimentally obtained electrical band gap is compared with the...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Surface Plasmon-Coupled Emission of Rhodamine 110 Aggregates in a Silica Nanolayer

    Publikacja

    - Rok 2012

    First analysis of strong directional surface plasmon-coupled emission(SPCE) of ground-state formed intermolecular aggregates of Rhodamine 110 (R110) insilica nanofilms deposited on silver nanolayers is reported. Until now, the processes ofenergy transport and its trapping due to aggregate formation have not been studied in the presence of SPCE. A new approach to multicomponent systems with weakly and strongly fluorescent centers...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Reactive deposition of TiNx layers in a DC-magnetron discharge

    Publikacja

    - SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS - Rok 2008

    TiNx layers have been deposited in 'balanced mode' and 'unbalanced mode' of a reactive DC-magnetron plasma (carrier gas argon, reactive gas nitrogen) under different conditions. Discharge power and reactive gas flow have been varied. The layers have been examined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray reflectometry (XR), and spectroscopic ellipsometry (SE). The results of the layer analyses were combined with plasma investigations...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Optical and chemical characterization of thin TiNx films deposited by DC-magnetron sputtering

    Publikacja

    - VACUUM - Rok 2008

    Thin titanium nitride (tinx) films were deposited on silicon substrates by means of a reactive dc-magnetron plasma. Layers were synthesized under various conditions of discharge power and nitrogen flows in two operation modes of the magnetron (the so-called "balanced" and "unbalanced" modes). The optical constants of the tinx films were investigated by spectroscopic ellipsometry (se). X-ray photoelectron spectroscopy (xps) was...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym