Jacek Andrzej Cichosz - Profil naukowy - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Kontakt

Wybrane publikacje

  • Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors

    • K. Mleczko
    • Z. Zawiślak
    • A. Stadtler
    • A. Kolek
    • A. Dziedzic
    • J. Cichosz

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - 2008

    Spektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.

    Pełny tekst w serwisie zewnętrznym

  • Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components

    Opisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.

  • RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices

    Przedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...

Uzyskane stopnie/tytuły naukowe

wyświetlono 151 razy