Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii - Laboratorium

Opis

Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:

optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,
spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów pasywnych (nieemitujących światła).

Stanowisko to umożliwia badania struktur wewnętrznych obiektów technicznych i biologicznych metodami optycznymi, jak również umożliwia badania spektralne obiektów dla przemysłu oświetleniowego (nowych typów źródeł światła LED), warstw ochronnych, unikatowych warstw dla zastosowań medycznych, w tym badania spektralnych charakterystyk elementów i modułów wizualizacji informacji.

Przeznaczenie

Obrazowanie optyczną techniką tomograficzną:

badanie struktury obiektów warstwowych oraz porowatych,
badanie metodą OCT elementów, modułów i układów elektronicznych (np. MEMS, MOEMS, PCB, elementy fotowoltaiczne),
pomiary OCT dla przemysłu spożywczego,• badania struktury i właściwości laminatów stosowanych w przemyśle (jachtowym, motoryzacyjnym, lotniczym, meblowym, opakowaniowym),
badania nieniszczące OCT struktur małowymiarowych na potrzeby kryminalistyki.

Badania spektroradiometryczne:

badania fotometryczne i kolorymetryczne displejów i mikrodisplejów (LCD, LED, OLED, plazmowe, projekcyjne),
charakteryzacja nowoczesnych źródeł światła (charakterystyki widmowe, temperatura barwowa, CRI),
badanie właściwości fotometrycznych i kolorymetrycznych obiektów w trybie odbiciowym (powłoki lakiernicze i malarskie, obiekty zabytkowe, obiekty ceramiczne, przemysł spożywczy).

Parametry techniczne

Optyczny tomograf koherentny (typ IVS-2000-PS firmy Santec):

tryb pracy: PS-SS-OCT,
środkowa długość fali: 1320 nm,
zakres przestrajania źródła: 120 nm,
rozdzielczość podłużna: 12 μm,
rozdzielczość poprzeczna: 15 μm,
szybkość pomiarów w trybie B-skan: >4 fps,
zakres pomiaru wzdłuż osi wiązki laserowej: 3 mm,
zakres pomiaru w kierunku poprzecznym do osi wiązki laserowej: 10 mm,
dodatkowe możliwości: pomiary polarymetryczne (pomiar kąta retardacji).

Spektroradiometr (typ CS-2000A firmy Konica Minolta):

zakres widmowy: 380-780 nm,
zakres luminancji: 0,003-5000 cd/m² (dla kąta widzenia 1º),
kąty widzenia: 0,1º, 0,2º, 1º,
powtarzalność wyznaczenia współrzędnych kolorymetrycznych x, y: > 0,005,
oprogramowanie cs10w.

Usługi towarzyszące

badanie jednorodności przestrzennej fotometrycznych i kolorymetrycznych parametrów obiektów płaskich,
badanie jednorodności przestrzennej fotometrycznych i kolorymetrycznych parametrów obiektów płaskich,• badanie charakterystyk kierunkowych źródeł światła.

Dodatkowe możliwości

pomiar obiektów wielkogabarytowych

Słowa kluczowe

Osoby powiązane

Tematyka badawcza / profil działalności laboratorium

(obowiązuje od dnia 01-07-2019) Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów pasywnych (nieemitujących światła).; Stanowisko to umożliwia badania struktur wewnętrznych obiektów technicznych i biologicznych metodami optycznymi, jak również umożliwia badania spektralne obiektów dla przemysłu oświetleniowego (nowych typów źródeł światła LED), warstw ochronnych, unikatowych warstw dla zastosowań medycznych, w tym badania spektralnych charakterystyk elementów i modułów wizualizacji informacji.

Rodzaj badań

Obrazowanie optyczną techniką tomograficzną:
• badanie struktury obiektów warstwowych oraz porowatych,; • badanie metodą OCT elementów, modułów i układów elektronicznych (np. MEMS, MOEMS, PCB, elementy fotowoltaiczne),; • pomiary OCT dla przemysłu spożywczego,; • badania struktury i właściwości laminatów stosowanych w przemyśle (jachtowym, motoryzacyjnym, lotniczym, meblowym, opakowaniowym),; • badania nieniszczące OCT struktur małowymiarowych na potrzeby kryminalistyki.
Badania spektroradiometryczne:
• badania fotometryczne i kolorymetryczne displejów i mikrodisplejów (LCD, LED, OLED, plazmowe, projekcyjne),; • charakteryzacja nowoczesnych źródeł światła (charakterystyki widmowe, temperatura barwowa, CRI),; • badanie właściwości fotometrycznych i kolorymetrycznych obiektów w trybie odbiciowym (powłoki lakiernicze i malarskie, obiekty zabytkowe, obiekty ceramiczne, przemysł spożywczy).;

Informacje szczegółowe

Opiekun:

dr hab. inż. Jerzy Pluciński

Jednostki powiązane:

Centrum Zaawansowanych Technologii

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Wyszukiwarka