Acta Imeko - Czasopismo - MOST Wiedzy

Acta Imeko

ISSN:

2221-870X

Dyscypliny:

automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok	Punkty	Lista
Rok 2024	40	Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024

Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok	Punkty	Lista
2024	40	Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023	40	Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022	40	Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021	40	Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020	40	Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019	40	Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018	0	niepunktowane
2017	0	niepunktowane
2016	0	niepunktowane
2015	0	niepunktowane
2014	0	niepunktowane
2013	0	niepunktowane

Model czasopisma:

Open Access

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok	Punkty
Rok 2022	2

Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok	Punkty
2022	2
2021	1.5
2020	1.3
2019	1.3
2018	1.3
2017	0.8
2016	0.5
2015	0.3

Impact Factor:

brak danych

Prace opublikowane w tym czasopiśmie

wyników na stronę:
rok:
- zaznaczony Sortuj po rok od najnowszych
- Sortuj po rok od najstarszych
tytuł:
- zaznaczony Sortuj po tytuł A-Z
- Sortuj po tytuł Z-A
cytowania:
- Sortuj po cytowania malejąco
- Sortuj po cytowania rosnąco

Filtry

wszystkich: 1

Rok 2014

Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
Publikacja
- D. Załęski
- R. Zielonko
- Acta Imeko - Rok 2014
The paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...

Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

wyświetlono 247 razy